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KL350A 전원키가 열쇠로 돌려야 켜지는 것인데 열쇠가 없어서 제품 확인 하지 못했습니다. 사용하던것이고 케이블만 연결하시면 됩니다. 직접 확인 하시고 구매 바랍니다. 사용하던 것으로 이상은 없습니다.
Anritsu KL350, KL151A SLB Dia non-contact Measuring System
비접촉 레이저 외경측정기 KL151A는 레이저 빔을 이용해 초당 1000회 , 정밀도 0.5μm로 비접촉방식으로 외경을 측정하는 장비입니다. 측정범위 0.03~2mm
없는것 메뉴얼 2권, 전원 키, 검출부 접속 케이블,
연결기 Assy2개, 플러스 드라이버 입니다.
안리츠의 KL150A SLB Dia Measuring System 은
비접촉 측정장비로 생산라인에서 고속 가공중인 상태에서 직접 측정이 가능해 선형재료, 광섬유 가공등의 선재 공정에서 품질 콘트롤 용으로 사용되고 있습니다. 안리츠의 독점적인 터닝 포크 왕복 스케닝 시스템은 레이저 빔을 이용합니다. 예를들어 광섬유 wob 덩이로 인한 에러발생을 원천적으로 막아줍니다. 또 고속으로 이루어지는 광섬유 제조에서 정확한 외겅을 측정해 줍니다.
특징은
- 왕복 스케닝 방법 허용 - 진동하는 물체의 외경에 대한 안정된 측정이 가능 - 고 신뢰도 와 장수명 (턴포트 디플렉터와 레이더 다이오드빔은 교체가 필요없습니다.) - 디스플레이 유닛부의 호환성이 뛰어납니다. - KL151A 는 FDA 요구와 IEC 표준의 안성성에 충족되고 있습니다.
KL151A 외경 측정기
소리방식에 의한 레이저빛의 왕복 주사로, 라인 측정에 있어서의 선편차 오차를 해소합니다. 광원에 반도체 레이저를 채용. 소리편향기와 아울러 장수명과 고신뢰성을 실현했습니다. 표시부와 검출부에 완전 호환성을 실현해, 동일 시리즈내에서의 편성이 무조정으로 가능합니다. 레이저의 안전기준에 준거하고 있습니다.
■주된 규격 형명 KL151A KL151ATW 측정 범위 0.03~2mm 0.05~0.3mm 측정 가능 영역 주사 방향 2.1mm 2.1mm 광축 방향 2.0mm mm 반복성*1,*5 () 안은 평균화 주기와 평균 회수 ±0.15μm(16 ms, AVG16) ±0.05μm(1 s, AVG1024) ±0.05μm(16 ms, AVG16 직선성*2,*5 ±0.3μm(φ0.1~1.0 mm) ±0.5μm(φ0.03~2.0 mm) φ125±1μm*4 φ0.05~0.3mm ――― ±0.25μm 재현성*3,*5 ±0.3μm(φ0.05~2.0 mm) ±1μm(φ0.03~0.05 mm) ±0.05μm(측정 가능 영역 1 x1mm) ±0.15μm(측정 가능 영역 2 x2mm) ±0.2μm(측정 가능 영역 2 x2mm) 안정도 ±0.2μm(±0.5℃의 주위 온도 변화에 대해서) ±0.05μm ±0.1μm ±5℃, 연속 10시간 측정 회수 매초 1000회 광원 불가시 반도체 레이저, 파장:780 nm, 외부 외부 출력 1 mW이하 레이저 제품의 클래스 클래스 3 B 사용 온도, 습도 0~45℃, 85이하 예열 시간 30분 치수, 질량 216(W) x88(H) x57(D) mm, 1.5kg
동일 방법으로 동일한 피측정물을, 비교적 짧은 시간에 반복 측정했을 경우에 있어서의 측정치의 불균형(3σ)입니다.
표준 게이지 세트(옵션)로 교정해, 측정 가능 영역의 중심 위치에서 표면이 광택 마무리하고 된 금속제의 피측정물을 측정했을 경우입니다.
측정 가능 영역의 중심을 기준으로 한 측정 가능 영역내에서의 피측정물의 위치에 의한 출력 변동입니다.
석영계 광섬유를 피측정물로 합니다.
외경 측정에 관한 규격입니다. KL350A 디스플레이 유닛
기 능 측정치의 평균화 단순평균 2~1024회(2배 스텝)(평균화 주기 및 출력 주기>2 ms~1 s) 이동평균 16~1024회(출력 주기:평균 회수/4 ms) 목표치 설정 0~9.99999mm 상하한치의 설정 0~±0.99999mm 상하한판정 기능 최대 7 단계(상하한치 설정 범위내를 5 분할) 세그먼트(segment) 기능 외경, 투명 체외지름, 틈 및 임의의 엣지간 측정(최대 6 엣지 측정 가능) pre-set 기능 ~9.99999mm 통계 기능 MAX, MIN, x, Ra, s.d. , n 측정 모드 연속 측정, 1회 측정, 기간 연속 측정, 자기 주기 측정 프로그램의 기억 최대 10방법까지의 측정 조건을 기억 표 시 수치 표시 측정치, 목표치, 상한치, 하한치, pre-set의 설정 표시와 공용 측정치의 최소 독해치 0.00001 mm(표시 단위는 mm, m전환가능) 피측정물의 위치 주사 방향 5 단계, 광축 방향 5 단계 모니터 램프 상하한판정, 레이저 수광량의 적부, 레이저 방사 입 출 힘 아날로그 편차 출력(레시오 완전히 교체되고) ±10V/10 mV(x1, x10, x100, x1000) 시리얼 I/O RS-232 C인타후에이스, 통신 속도 300~9600bps 측정 조건 설정, 측정 제어, 측정치(절대치)·목표치·상하한치의 설정과 읽어내 패러렐 출력(옵션) NPN 트랜지스터 오픈 수집가 24 V, 10 mA, 21 bit 바이너리 또는 부호부 6자리수 BCD(변환), 선별 출력(3 bit 코드), 알람 출력 3점 제어용 아날로그 출력(옵션) ·주사 방향 위치, 광축 방향 위치 출력전압:±10 V(중앙 0 V), 최대 출력 전류:8mA 편차 출력 출력전압:±5 V, 최대 출력 전류:8mA 경보 선별 출력 photo-coupler 출력(10 mA, 24 V) 10점, 선별 출력 7점, 레이저광강도 저하, 피측정물 위치 어긋나 기기 이상 측정 제어 입력 photo-coupler 입력(10 mA, 24 V) 2점, 방아쇠(측정 개시, 종료), 통계 종료 레이저 외부 제어 레이저의 발광을 ON, OFF 합니다 전원, 사용 온도, 습도 범위 AC90~125 V, 50/60 Hz, 80 VA이하, 0~45℃, 80이하 치수, 질량 284(W) x115(H) x280(D) mm, 약 5kg
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