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[안리쓰] 고성능 테스트 요구사항 충족 위해 VectorStar™ VNA에 차동 잡음 수치 측정 옵션 제공
작성자 메타사이트
등록일 2018-06-14

안리쓰, 고성능 테스트 요구사항 충족 위해 VectorStar™ VNA에 차동 잡음 수치 측정 옵션 제공
마이크로파시스템에 사용되는 디바이스에서 차동 잡음 지수의 광범위한 특성화를 수행하는 최초의 솔루션 제공

안리쓰(Anritsu)는 고속 무선 통신 시스템에 사용되는 차동 장치의 차동 잡음 지수(Differential Noise Figure)를 광범위하게 특성화 할 수 있는 업계 최초의 솔루션을 발표했습니다. 새로운 차동 잡음 지수 옵션(Differential Noise Figure Option)을 Anritsu VectorStar™ 벡터 네트워크 분석기 (VNA)에 통합한 이 솔루션을 사용하면 R&D 엔지니어가 저잡음 증폭기 (low noise amplifiers : LNA) 및 5G 프런트 엔드에 사용되는 기타 장치의 수신기 성능을 검증할 수 있습니다. 이 옵션은 70 kHz에서 최대 20 GHz, 40 GHz, 70 GHz 및 110 GHz에서 작동하는 VectorStar 모델에서 사용할 수 있습니다.

새로운 차동 잡음 지수 옵션은 VectorStar의 2 포트 단일 종단 잡음 지수 측정 기능을 향상시키며 VNA는 다양한 처리 옵션을 사용하여 단일 종단, 차등 및 공통 모드 작업에서 3포트 및 4포트 디바이스를 측정할 수 있습니다. Anritsu의 차동 잡음 지수 옵션은 기존의 Y 인자 잡음 소스 방법에 비해 정확도를 향상시키기 위해 부정합 오류를 최소화하는 2포트 방법과 유사한 콜드소스측정 기법을 사용합니다. 새롭게 향상된 잡음 지수 옵션은 2포트 및 멀티 포트 장치에서 벡터 보정 레벨을 수행할 수 있는 기능을 추가하여, 특히 불일치가 클 때 더욱 높은 정확도를 제공합니다.

새로운 차동 잡음 지수 기술은 상관 및 비 상관 잡음의 측정 분석도 가능합니다. 결과적으로 실제 디바이스 성능을 보다 포괄적으로 특성화하여 설계 신뢰도를 높일 수 있습니다. 시험 대상 장치(DUT)출력 포트 간의 상관 관계를 무시하거나 S-parameter 응답특성과 RF balun만을 포함하기 때문에 차동장치의 특성화가 어려운 기존 접근 방식보다 우수한 방법입니다. 5G로 인해 작동 주파수가 계속 상승함에 따라 디바이스 성능을 보다 정확하게 특성화 할 수 있는 능력이 더 중요해질 전망입니다.

VectorStar의 확장된 네트워크 도구로 정확성이 더욱 보장됩니다. 예를 들어, VNA는 On -Wafer 잡음 지수 측정 프로세스 동안 단일 종단형 및 차동형 프로브 및 기타 네트워크 특성을 임베딩(포함)시키거나 디임베딩(제거) 할 수 있으며 다른 설정 변경을 위해 수신기 캘리브레이션(보정)을 정확하게 수행할 수 있습니다. 결과적으로 On-Wafer 환경에서 차동 장치의 잡음지수 특성을 보다 정확하게 측정할 수 있습니다.

MS4640B VectorStar VNA는 단일 장비로 70kHz ~ 70GHz의 가장 넓은 범위를 처리할 수 있는 제품이다. 광대역 구성에서 커버리지는 145 GHz 및 1.1 THz로 까지 확장할 수 있습니다. VectorStar는 단일 종단 및 차동 모두 70 kHz ~ 125 GHz의 잡음 지수를 측정할 수 있는 유일한 VNA 플랫폼입니다. VNA 시리즈는 디바이스를 정확하고 안정적으로 특성화하기 위해 고심하고 있는 디바이스 모델링 엔지니어, 최첨단 설계에서 잡음 수치를 최소화하여 정확도를 더욱 높이고자 하는 R&D 엔지니어, 정확성을 희생시키지 않으면서 Throughput을 극대화해야 하는 제조 엔지니어 모두에게 새로운 차원의 성능을 제공합니다.