| |
|
BERTWave MP2100A |
|
|
기능
|
-
-
고속 원격 테스트
- 전기적 인터페이스 및 광 인터페이스 지원
- 고속 마스크 테스트
- 간편한 동작, 플래시 디스크 드라이브, 환경 친화적
- 동시 지터, 아이 패턴 및 아이 마스크 측정을 지원하는 일체형 유닛
- 모든 WDP 측정 지원
- 아이 디스플레이를 이용한 동시 샘플링과 이퀄라이저/엠퍼시스 이상값 계산
- 동시 파형 관련 아이 패턴, 아이 마스크, 지터의 동시 측정
|
|
|
설명
MP2100A 는 광통신 시스템의 광학 활성 장치를 평가하는 일체형 BERT 및 아이/펄스 스코프
솔루션입니다.
활성 광학 장치의 생산 라인에서 요구대로 최대한 빠른 측정 속도를 내기 위해 게이팅 시간은 원격 명령을 이용한 기존 BERT
장비와 비교하여 90% 감소하였으며, 아이/펄스 스코프 기능은 300% 더 빠릅니다. 또한 동시 BER 측정과 아이 패턴 분석 때문에 측정
시간은 크게 줄었습니다.
MX210001A 지터 분석 소프트웨어에는 동시 지터 분석 같은 일체형 측정과 아이패턴 측정 및 아이 마스크 테스트 측정을 지원하는 새로운
고속 지터 측정 기능이 있습니다. 게다가, 고속 샘플링은 측정 시간을 줄여 측정 효율성을 높입니다. 그리고 MX210001A에 MATLAB를
결합하면 특정 신호의 파형 분산을 평가하는 WDP, TWDP 및 dWDP 측정을 지원할 수 있습니다.
MX210002A 전송 분석 소프트웨어를 BERTWave에 추가하면 Tx 분석(S21 게인, 위상), 그리고 선형 이퀄라이저, 필터 및
엠퍼시스 동작을 이용한 파형 시뮬레이션(비내장)을 지원할 수 있으며, 동시 파형 샘플링 및 시뮬레이션은 동시 아이 패턴 측정과 아이 마스크
테스트 측정을 지원합니다. 또한, MX210001A 소프트웨어에 추적을 결합하면 시뮬레이션 후 파형 지터 측정이 가능합니다.
MATLAB® 는 The MathWorks Inc.의 상표입니다.
|
BERTS
|
|
MP2100A/MP2101A-090이 있을 때
|
MP2100A/MP2101A-090이 없을 때
|
|
동작 비트율
|
PPG, ED 공통:
가변 비트율 범위(1kbit/s 단계)
8Gbit/s~12.5Gbit/s
1/N 비트율 동작 범위
N=2: 4Gbit/s~6.25Gbit/s
N=4:
2Gbit/s~3.125Gbit/s
N=8: 1Gbit/s~1.5625Gbit/s
N=16:
500Mbit/s~781.25Mbit/s
N=32: 250Mbit/s~390.625Mbit/s
N=64: 125
Mbit/s~195.312Mbit/s
|
PPG;
가변 비트율 범위(1kbit/s 단계)
8.5Gbit/s~11.32Gbit/s
1/N 비트율 동작산 범위
N=2: 4.25Gbit/s~5.66Gbit/s
N=4:
2.125Gbit/s~2.83Gbit/s
N=8: 1.0625Gbit/s~1.415Gbit/s
N=16:
531.25Mbit/s~701.5Mbit/s
N=32: 265.625Mbit/s~353.75Mbit/s
N=64:
132.813Mbit/s~176.875Mbit/s
ED;
가변 비트율 범위(1kbit/s 단계)
8.5Gbit/s~11.32Gbit/s
4.25Gbit/s~5.66Gbit/s
|
|
테스트 패턴
|
PRBS: 27-1, 29-1, 215-1, 223-1,
231-1, (반전 ON/OFF),
사용자 데이터: 1.3Mbit 프로그래밍 지원(CJPAT 같은 샘플 패턴 파일
등)
|
|
전기 데이터 출력
|
데이터, Xdata
|
|
진폭
|
0.1Vp-p~0.8Vp-p
|
|
전기 데이터 입력
|
원데이터, Xdata(옵션 001),
데이터(옵션 003)
|
|
진폭
|
0.1Vp-p~0.8Vp-p
|
|
O/E 입력(옵션 003)
|
광 데이터
|
|
파장 범위
|
750 nm ~ 1650 nm
|
|
XFP 슬롯(옵션 050)
|
XFP 슬롯
|
|
SFP+ 슬롯(옵션 051)
|
SFP+ 슬롯
|
아이/펄스 스코프
|
대역폭(-3 dB)
|
최소 DC~20GHz, 보통 DC~25GHz
|
|
디스플레이
|
아이 패턴, 펄스 패턴
|
|
측정 기능
|
통계(NRZ),, 히스토그램, 마스크 적합성
|
|
샘플링 속도
|
보통 1초에 샘플 100,000개
|
|
O/E 입력(옵션 003)
|
광 데이터
|
|
파장 범위
|
750 nm ~ 1650 nm
|
|
클럭 복구(옵션 055)
|
0.1 GHz ~ 2.7 GHz, 8.5 GHz ~ 12.5 GHz
|
MX210001A 지터 분석 소프트웨어
|
동작 조건
|
라이선스 정보가 정확한 MP2100A/MP2102A에 설치할 때만 동작함
설치 프로그램이 V3.00.00 이상과 함께 실행됨
기타 사용 조건은 MP2100A 시리즈를 따름
WDP는 MATLAB R2010b SP1에서 실행됨
|
|
측정 알고리즘
|
히스토그램 모드, 패턴 검색 모드
|
|
히스토그램 모드
|
|
|
측정 항목
|
TJ(1.0E-12), TJ(사용자 지정), RJ(d-d), DJ(d-d), DDPWS, J2 지터 분석, J9 지터 분석,
아이 오프닝
|
|
패턴 검색 모드
|
|
|
측정 항목
|
TJ(1.0e-12), TJ(사용자 지정), RJ(d-d), RJ(rms), DJ(d-d), PJ(p-p), DDJ(p-p), DCD,
ISI(p-p),
아이 오프닝, J2 지터 분석, J9 지터 분석, DDPWS, PJ 주파수
|
|
WDP 측정
|
MathWorks의 MATLAB 2010b 설치 필요
|
|
측정 항목
|
WDP, dWDP, TWDP, dTWDP, WDPc, dWDPc, TWDPc,
dWDPc
|
MX210002A 전송 분석 소프트웨어
|
동작 조건
|
라이선스 정보가 정확한 MP2100A에 설치할 때만 동작함
V3.00.00 이상 설치 프로그램과 함께 실행됨
기타
사용 조건은 MP2100A 시리즈를 따름
|
|
측정 모드
|
전송 분석, 파형 추정
|
|
전송 분석
|
|
|
측정 항목
|
게인 그래프, 위상 그래프, 그룹 딜레이 그래프
(위상 그래프와 그룹 딜레이 그래프 전환 디스플레이)
|
|
파형 추정
|
|
|
이퀄라이저 설정
|
계산시 반사판, 무반사판 선택함
|
|
엠퍼시스 형식
|
2Post/1Pre, 3Post, 1Post/1Pre, 2Post, 1Post
|
|
장치 특성
|
S2P 파일 읽음
|
|
지터 분석
|
MX210001A에서 추정한 파형 계산 결과 표시
(MX210001A가 MP2100A에 설치되어 있을 때)
|
|
Functions
- 측정 시간 단축 -
|
| 일체형 BER 및 아이 패턴 측정 |
|
|
일체형 테스터를 이용한 동시 BER 및 아이/펄스 스코프 측정은 투자 비용을 반으로 줄이고 측정 시간을 줄입니다. 추적 기능은 간편한 BERT
및 아이/펄스 스코프 설정을 지원합니다.
|
|
| 고속 원격 테스트 |
|
|
내장된 원격 고속 모드는 배치 처리 다중 명령을 위한 혼합 원격 기능을 지원하고, BER 측정 시간을 10ms까지 30%*1
줄입니다.
|
|
| 고속 마스크 테스트 |
|
|
고속 샘플링은 약 12초* 내에 빠른 마스크 테스트를 지원하여 측정 시간을 줄입니다.
(*) 연속된 PRBS31테스트 패턴과 함께
10.3125 Gbit/s의 비트율에서 106 개의 샘플을 포착할 때
|
| 고속 마스크 마진 테스트 |
|
|
|
|
- 다양한 측정 기능 -
|
| 폭넓은 동작 주파수 범위 |
|
|
BERT 기능은 100BASE-FX, GE-PON, CPRI, 10GFC, OUT-2 등을 지원하는 장치와 어플리케이션을 평가하기 위해 125
Mbit/s부터 12.5 Gbit/s(옵션 090 포함)의 비트율을 지원합니다.
|
|
| 신호 강도 분석 |
|
|
DC부터 25GHz까지 지원하는 아이/펄스 스코프는 다양한 어플리케이션을 이용한 신호 강도 분석을 제공합니다.
이 테스트는 0과 1 레벨, SNR, 눈 교차점 비율, 눈 진폭, 눈 높이,
눈 폭, 지터 p-p 값, 지터 RMS, 소광비, 상승 및 하락 시간, 듀티 사이클 왜곡, 평균 전력의 측정을 지원합니다. 또한, 이상값에
가까운 고정밀 소광비 측정은 광 모듈의 특성을 확인하기에 아주 적합합니다.
지정된 영역의 평균, 표준편차, 데이터 분산 측정은 파형 데이터 구성요소 분석 및 문제해결을
지원합니다.
|
|
- 고정밀 소광비 측정 -
|
| 고정밀 소광비 측정 지원 |
|
|
주파수 특성이 뛰어난 베셀 필터는 고정밀 소광비 측정 결과를
지원합니다.
|
|
- 지터 분석 기능 -
|
| MX210001A 지터 분석 소프트웨어 |
|
|
어플리케이션에 어울리는 이상적인 지터 분석 솔루션은 기본적인 지터 분석을 위한 히스토그램 모드 또는 상세한 지터 분석을 위한 패턴 검색 모드 중에서 선택할 수 있습니다.
|
|
- 전송 분석 기능 -
|
| MX210002A 전송 분석 소프트웨어 |
|
|
전송 분석(S21 게인, 위상) 기능은 물론 선형성, 필터링, 엠퍼시스 계산을 포함한 파형 시뮬레이션은 동시 파형 샘플링 및 시뮬레이션을 지원합니다. 아이 패턴 측정과 아이 마스크 테스트 기능도 동시에 사용할 수 있습니다.
|
|
Application
|
| 광 모듈 평가 |
|
|
- 동시 TRx 측정
MP2100A 하나가 광 모듈의 동시 TRx 평가를 수행하는 전기적 인터페이스, 광 인터페이스를 모두 지원하여 측정 시간을
줄입니다.
- 고속 원격 테스트
내장된 원격 고속 모드는 배치 처리 다중 명령을 위한 혼합 원격 기능을 지원하고, BER 측정 시간을 10ms까지 30% 줄입니다.
- 고속 마스크 테스트
고속 샘플링은 약 12초* 내에 빠른 마스크 테스트를 지원하여 측정 시간을 줄입니다.
(*) 연속된 PRBS31테스트 패턴과 함께
10.3125 Gbit/s의 비트율에서 106 개의 샘플을 포착할 때
|
|
| 활성 광 케이블 평가 |
|
|
- 동시 2채널 BER 측정
BERTS를 2채널로 확장하면 간편한 동시 TRx 측정과 크로스토크 테스트를 지원할 수 있습니다.
- 일체형 BER 및 아이 패턴 측정
일체형 테스터를 이용한 동시 BER 측정과 아이 패턴 분석은 별도의 BERTS와 샘플링 스코프가 필요치 않아 장비 비용이 반으로
줄어듭니다.
- 폭넓은 동작 주파수 범위
BERT 기능은 100BASE-FX, GE-PON, CPRI, 10GFC, OUT-2 등을 지원하는 장치와 어플리케이션을 평가하기 위해
125 Mbit/s부터 12.5 Gbit/s(옵션 090 포함)까지 비트율을 지원합니다.
|
|
| 전송 장비의 물리적 계측 평가 |
|
|
- 클럭 복구
아이/펄스 패턴 클럭 복구 기능(옵션 055)은 8.5~12.5GHz, 0.1~2.7GHz의 주파수를 지원하여 대부분의 어플리케이션을 위한
마스크 테스트를 수행합니다.
- 고속 마스크 테스트
고속 샘플링은 약 12초* 내에 빠른 마스크 테스트를 지원하여 측정 시간을 줄입니다.
(*) 연속된 PRBS31테스트 패턴과 함께
10.3125 Gbit/s의 비트율에서 106 개의 샘플을 포착할 때
|
|
| 활성 광 케이블(AOC) 측정 |
|
|
MX210001A는 고속 및 다차선 활성 광 케이블(AOC)에서 필요한 동시 지터 분석, 아이 패턴 측정, 아이 마스크 테스트를
지원합니다. 게다가, 고속 트리거링은 빠른 DDJ 측정을 지원하여 측정 시간을 80% 줄입니다.
 
|
|
| 직접 연결 케이블(DAC) 측정 |
|
|
서버 랙 간의 짧은 연결에 사용되는 직접 연결 케이블(DAC) 같은 수동 케이블의 아이 오프닝은 Rx 섹션 장비에 내장된 이퀄라이저를
이용하여 확인할 수 있습니다. MX210002A는 이들 장치의 S21(게인, 위상) 특성을 측정하는 데 사용할 수 있습니다. 게다가, 최적화된
이퀄라이저, 필터, 엠퍼시스 값이 포함된 파형은 이들 전송 특성으로 예측할 수 있기에 시뮬레이션 파형에 대한 아이 패턴 측정과 아이 마스크
테스트를 수행할 수 있습니다.
또한, MX210001A와의 결합은 아이 패턴 측정과 지터 분석 같이 DAC 제조에 필요한 테스트를 한
유닛에서 지원합니다.
|
|
| 엠퍼시스 효과 시뮬레이션 |
|
|
MP1825B 4 탭 엠퍼시스와 똑같은 4탭 엠퍼시스를 설정할 수 있습니다. 전송 경로 손실로 저하된 아이 패턴 측정을 통해 파형의
이퀄라이제이션과 엠퍼시스를 수정하면 나오는 아이 패턴 측정 유형, 또는 필요한 이퀄라이제이션이나 엠퍼시스를 결정하는 파형 즉석 시뮬레이션을
이용한 분석이 엠퍼시스 설계에 다시 들어갈 수 있습니다.
|
|
Lineup
|
| MP2100A BERTWave |
|
|
MP2100A BERTWave는 일체형 BERT 및 아이/펄스 스코프 측정 솔루션입니다. 동시 BER 측정과 아이패턴 분석은 시간 소모적인
설정을 제거하여 측정 시간을 줄여줍니다. MP2100A 시리즈는 연구개발(R&D)과 제조를 모두 지원하는 이상적인 일체형
솔루션입니다.
|
|
| MP2100A BERTWave PE |
|
|
MP2101A BERTWave PE는 BER 측정 전용 솔루션입니다. BERTWave PE를2개 채널로 확장하면 복잡한 라인 변경을
제거하여 간편하고 효율적인 동시 TRx 측정을 지원할 수 있습니다. 게다가, PPG/ED 크로스토크 테스트에 대한 일체형 지원은 측정 시간과
설정 비용을 줄여줍니다.
＞＞＞여기를 클릭하면 MP2101A BERTWave PE에 대해 자세히 확인할 수 있습니다.
|
|
| MP2102A BERTWave SS |
|
|
MP2102A BERTWave SS는 내장 클럭 복구 기능을 이용한 이상적인 고속 아이 패턴 분석 전용 솔루션으로, 클럭 출력 없는 장거리
전송 장비 및 장치의 광학 특성 평가를 지원합니다. 내장 시간/진폭 테스트, 히스토그램 분석, 마스크/마스크 마진 테스트 기능은 신호 품질
분석을 위한 완벽한 솔루션으로 이 솔루션을 만들어 줍니다.
＞＞＞여기를 클릭하면
MP2102A BERTWave SS에 대해 자세히 확인할 수 있습니다.
|
|
| 소프트웨어 |
|
|
-지터 분석 소프트웨어-
MX210001A 지터 분석 소프트웨어에는 동시 지터 분석 같은 일체형 측정과 아이패턴 측정 및 아이 마스크 테스트 측정을 지원하는 새로운
고속 지터 측정 기능이 있습니다.
게다가, 고속 샘플링은 측정 시간을 줄여 측정 효율성을 높입니다. 그리고 MX210001A에
MATLAB를 결합하면 특정 신호의 파형 분산을 평가하는 WDP, TWDP 및 dWDP 측정을 지원할 수 있습니다.
＞＞＞여기를
클릭하면 MX210001A 지터 분석 소프트웨어에 대해 자세히 확인할 수 있습니다.
- 전송 분석 소프트웨어 -
MX210002A 전송 분석 소프트웨어를 BERTWave에 추가하면 Tx 분석(S21 게인, 위상), 그리고 선형 이퀄라이저, 필터 및
엠퍼시스 동작을 이용한 파형 시뮬레이션(비내장)을 지원할 수 있으며, 동시 파형 샘플링 및 시뮬레이션은 동시 아이 패턴 측정과 아이 마스크
테스트 측정을 지원합니다. 또한, MX210001A 소프트웨어에 추적을 결합하면 시뮬레이션 후 파형 지터 측정이 가능합니다.
＞＞＞여기를
클릭하면 MX210002A 전송 분석 소프트웨어에 대해 자세히 확인할 수 있습니다.
|
|
라이브러리
|
Application Note
Driver/소프트웨어 다운로드
리플렛
솔루션 카탈로그
제품 소개
조작 메뉴얼
테크니컬 노트
팜플렛
|
|
|
|
|
|
|
|
